Lista de métodos de análisis de materiales

Esta es una lista de métodos de análisis utilizados en la ciencia de los materiales . Los métodos de análisis se enumeran por su acrónimo, si lo tienen.

• μSR – véase espectroscopia de espín de muones
• χ – véase susceptibilidad magnética

• AAS – Espectroscopia de absorción atómica
• AED – Difracción de electrones Auger
• AES – Espectroscopia de electrones Auger
• AFM – Microscopía de fuerza atómica
• AFS – Espectroscopia de fluorescencia atómica
• Ultracentrifugación analítica
• APFIM – Microscopía de iones de campo con sonda atómica
• APS – Espectroscopia de potencial de apariencia
• ARPES – Espectroscopia de fotoemisión resuelta angularmente
• ARUPS – Espectroscopia de fotoemisión ultravioleta resuelta angularmente
• ATR – Reflectancia total atenuada

• BET – Medición de la superficie BET (BET de Brunauer, Emmett, Teller)
• BiFC – Complementación de fluorescencia bimolecular
• BKD – Difracción de Kikuchi por retrodispersión, véase EBSD
• BRET – Transferencia de energía por resonancia de bioluminiscencia
• BSED – Difracción de electrones retrodispersados, véase EBSD

• CAICISS – Espectroscopia de dispersión de iones por colisión de impacto coaxial
• CARS – Espectroscopia Raman anti-Stokes coherente
• CBED – Difracción de electrones por haz convergente
• CCM – Microscopía de recolección de carga
• CDI – Imagen por difracción coherente
• CE – Electroforesis capilar
• CET – Tomografía crioelectrónica
• CL – Catodoluminiscencia
• CLSM – Microscopía confocal de barrido láser
• COSY – Espectroscopia de correlación
• Crio-EM – Microscopía crioelectrónica
• Cryo-SEM – Microscopía electrónica de barrido criogénica
• CV – Voltametría cíclica

• DE(T)A – Análisis térmico dieléctrico
• dHvA – Efecto De Haas-van Alphen
• Microscopía de contraste de interferencia diferencial (DIC)
• Espectroscopia dieléctrica
• DLS – Dispersión dinámica de la luz
• DLTS – Espectroscopia transitoria de nivel profundo
• DMA – Análisis mecánico dinámico
• DPI – Interferometría de doble polarización
• DRS – Espectroscopia de reflexión difusa
• DSC – Calorimetría diferencial de barrido
• Análisis térmico diferencial (ATD)
• DVS – Sorción dinámica de vapor

• EBIC – Corriente inducida por haz de electrones (véase IBIC: carga inducida por haz de iones)
• EBS – Espectrometría de retrodispersión elástica (no Rutherford) (véase RBS )
• EBSD – Difracción de electrones retrodispersados
• ECOSY – Espectroscopia de correlación exclusiva
• ECT – Tomografía de capacitancia eléctrica
• EDAX – Análisis de rayos X por dispersión de energía
• EDMR – Resonancia magnética detectada eléctricamente , véase ESR o EPR
• EDS o EDX: espectroscopia de rayos X de energía dispersiva
• EELS – Espectroscopia de pérdida de energía de electrones
• EFTEM – Microscopía electrónica de transmisión con filtrado de energía
• EID – Desorción inducida por electrones
• EIT y ERT: Tomografía de impedancia eléctrica y tomografía de resistividad eléctrica.
• EL – Electroluminiscencia
• Cristalografía electrónica
• ELS – Dispersión electroforética de la luz
• ENDOR – Resonancia doble electrón-nuclear , véase RPE o EPR
• EPMA – Microanálisis por sonda electrónica
• EPR – Espectroscopia de resonancia paramagnética electrónica
• ERD o ERDA – Detección de retroceso elástico o análisis de detección de retroceso elástico
• ESCA – Espectroscopia electrónica para análisis químico (ver XPS)
• ESD – Desorción estimulada por electrones
• ESEM – Microscopía electrónica de barrido ambiental
• ESI-MS o ES-MS – Espectrometría de masas por ionización por electrospray o espectrometría de masas por electrospray
• ESR – Espectroscopia de resonancia de espín electrónico
• ESTM – Microscopía de efecto túnel electroquímica
• EXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X extendida
• EXSY – Espectroscopia de intercambio

• FCS – Espectroscopia de correlación de fluorescencia
• FCCS – Espectroscopia de correlación cruzada de fluorescencia
• FEM – Microscopía de emisión de campo
• FIB – Microscopía de haz de iones focalizado
• FIM-AP – Microscopía de iones de campo – sonda atómica
• birrefringencia de flujo
• Anisotropía de fluorescencia
• FLIM – Imagen de tiempo de vida de fluorescencia
• microscopía de fluorescencia
• FOSPM – Microscopía de sonda de barrido orientada a características
• FRET – Transferencia de energía por resonancia de fluorescencia
• FRS – Espectrometría de retroceso hacia adelante, sinónimo de ERD
• FTICR o FT-MS: resonancia ciclotrónica de iones por transformada de Fourier o espectrometría de masas por transformada de Fourier.
• FTIR – Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier

• GC-MS – Cromatografía de gases-espectrometría de masas
• GDMS – Espectrometría de masas por descarga luminiscente
• GDOS – Espectroscopia óptica de descarga luminiscente
• GISAXS – Dispersión de rayos X de ángulo pequeño con incidencia rasante
• GIXD – Difracción de rayos X de incidencia rasante
• GIXR – Reflectividad de rayos X de incidencia rasante
• GLC – Cromatografía gas-líquido
• GPC – Cromatografía de permeación en gel

• HAADF – Imagen de campo oscuro anular de alto ángulo
• HAS – Dispersión de átomos de helio
• HPLC – Cromatografía líquida de alta resolución
• HREELS – Espectroscopia de pérdida de energía de electrones de alta resolución
• HREM – Microscopía electrónica de alta resolución
• HRTEM – Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
• HI-ERDA – Análisis de detección de retroceso elástico de iones pesados
• HE-PIXE – Emisión de rayos X inducida por protones de alta energía

• IAES – Espectroscopia de electrones Auger inducida por iones
• IBA – Análisis de haces de iones
• IBIC – Microscopía de carga inducida por haz de iones
• ICP-AES – Espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ICP-MS – Espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente
• Inmunofluorescencia
• ICR – Resonancia ciclotrónica de iones
• IETS – Espectroscopia de tunelización inelástica de electrones
• IGA – Análisis gravimétrico inteligente
• IGF – Fusión de gases inertes
• IIX – Análisis de rayos X inducido por iones, véase emisión de rayos X inducida por partículas
• INS – Espectroscopia de neutralización de iones
• Dispersión inelástica de neutrones
• IRNDT – Ensayos no destructivos por infrarrojos de materiales
• IRS – Espectroscopia infrarroja
• ISS – Espectroscopia de dispersión de iones
• ITC – Calorimetría de titulación isotérmica
• IVEM – Microscopía electrónica de voltaje intermedio

• LALLS – Dispersión de luz láser de bajo ángulo
• LC-MS – Cromatografía líquida-espectrometría de masas
• LEED – Difracción de electrones de baja energía
• LEEM – Microscopía electrónica de baja energía
• LEIS – Dispersión de iones de baja energía
• LIBS – Espectroscopia de ruptura inducida por láser
• LOES – Espectroscopia de emisión óptica láser
• LS – Dispersión de luz (Raman)

• MALDI – Desorción/ionización láser asistida por matriz
• MBE – Epitaxia por haces moleculares
• MEIS – Dispersión de iones de energía media
• MFM – Microscopía de fuerza magnética
• MIT – Tomografía por inducción magnética
• MPM – Microscopía de fluorescencia multifotónica
• MRFM – Microscopía de fuerza de resonancia magnética
• RM – Imagen por resonancia magnética
• EM – Espectrometría de masas
• Espectrometría de masas en tándem (MS/MS)
• MSGE – Emisión de gas estimulada mecánicamente
• espectroscopia Mössbauer
• MTA – Análisis microtérmico

• Análisis por activación neutrónica ( NAA)
• ND – Difracción de neutrones
• NDP – Perfilado de profundidad de neutrones
• NEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde
• NIS – Dispersión/absorción inelástica nuclear
• RMN – Espectroscopia de resonancia magnética nuclear
• NOESY – Espectroscopia del efecto Overhauser nuclear
• NRA – Análisis de reacciones nucleares
• NSOM – Microscopía óptica de campo cercano

• OBIC – Corriente inducida por haz óptico
• ODNMR – Resonancia magnética detectada ópticamente, véase ESR o EPR
• OES – Espectroscopia de emisión óptica
• Osmometría

• PAS – Espectroscopia de aniquilación de positrones
• Espectroscopia fotoacústica
• PAT o PACT: Tomografía fotoacústica o tomografía computarizada fotoacústica
• PAX – Fotoemisión de xenón adsorbido
• PC o PCS – Espectroscopia de fotocorriente
• microscopía de contraste de fase
• Doctorado – Difracción de fotoelectrones
• PD – Fotodesorción
• PDEIS – Espectroscopia de impedancia electroquímica potenciodinámica
• PDS – Espectroscopia de deflexión fototérmica
• PED – Difracción de fotoelectrones
• PEELS – espectroscopia de pérdida de energía de electrones paralela
• PEEM – Microscopía electrónica de fotoemisión (o microscopía de emisión fotoelectrónica)
• PES – Espectroscopia de fotoelectrones
• PINEM – microscopía electrónica de campo cercano inducida por fotones
• PIGE – Espectroscopia de rayos gamma inducida por partículas (o protones), véase análisis de reacciones nucleares
• PIXE – Espectroscopia de rayos X inducida por partículas (o protones)
• PL – Fotoluminiscencia
• Porosimetría
• difracción de polvo
• PTMS – Microespectroscopia fototérmica
• PTS – Espectroscopia fototérmica

• QENS – Dispersión cuasielástica de neutrones
• QCM-D – Microbalanza de cristal de cuarzo con monitorización de la disipación

• espectroscopia Raman
• RAXRS – Dispersión anómala resonante de rayos X
• RBS – Espectrometría de retrodispersión de Rutherford
• REM – Microscopía electrónica de reflexión
• RDS – Espectroscopia de diferencia de reflectancia
• RHEED – Difracción de electrones de alta energía por reflexión
• RIMS – Espectrometría de masas por ionización por resonancia
• RIXS – Dispersión inelástica resonante de rayos X
• Espectroscopia RR – Espectroscopia Raman de Resonancia

• SAD – Difracción de área seleccionada
• SAED – Difracción de electrones de área seleccionada
• SAM – Microscopía Auger de barrido
• SANS – Dispersión de neutrones a ángulo pequeño
• SAXS – Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• SCANIIR – Composición de la superficie mediante análisis de especies neutras y radiación de impacto iónico.
• SCEM – Microscopía electrónica confocal de barrido
• SE – Elipsometría espectroscópica
• SEC – Cromatografía de exclusión por tamaño
• SEIRA – Espectroscopia de absorción infrarroja mejorada en superficie
• SEM – Microscopía electrónica de barrido
• SERS – Espectroscopia Raman potenciada por superficie
• SERRS – Espectroscopia Raman de resonancia mejorada en superficie
• SESANS – Dispersión de neutrones de ángulo pequeño por eco de espín
• SEXAFS – Estructura fina de absorción de rayos X extendida en superficie
• SICM – Microscopía de conductancia iónica de barrido
• SIL – Lente de inmersión sólida
• SIM – Espejo de inmersión sólida
• SIMS – Espectrometría de masas de iones secundarios
• SNMS – Espectrometría de masas de especies neutras pulverizadas
• SNOM – Microscopía óptica de campo cercano por barrido
• SPECT – Tomografía computarizada por emisión de fotón único
• SPM – Microscopía de sonda de barrido
• SRM-CE/MS – Espectrometría de masas por electroforesis capilar con monitorización de reacciones seleccionadas
• RMN de estado sólido – Resonancia magnética nuclear de estado sólido
• Espectroscopia de Stark
• STED – Microscopía de agotamiento por emisión estimulada
• STEM – Microscopía electrónica de transmisión de barrido
• STM – Microscopía de efecto túnel
• STS – Espectroscopia de efecto túnel de barrido
• SXRD – Difracción de rayos X de superficie

• TAT o TACT – Tomografía termoacústica o tomografía computarizada termoacústica (véase también tomografía fotoacústica – PAT)
• TEM – Microscopía electrónica de transmisión
• TGA – Análisis termogravimétrico
• TIKA – Análisis cinético de iones transmisores
• TIMS – Espectrometría de masas por ionización térmica
• TIRFM – Microscopía de fluorescencia de reflexión interna total
• TLS – Espectroscopia de lente fototérmica, un tipo de espectroscopia fototérmica
• Análisis termomecánico (TMA)
• TOF-MS – Espectrometría de masas por tiempo de vuelo
• Microscopía de excitación de dos fotones
• TXRF – Análisis de fluorescencia de rayos X por reflexión total

• Espectroscopia de atenuación ultrasónica
• UPS – Espectroscopia de fotoelectrones UV
• USANS – Dispersión de neutrones de ángulo ultrapequeño
• USAXS – Dispersión de rayos X de ángulo ultrapequeño
• UT – Pruebas ultrasónicas
• UV-Vis – Espectroscopia ultravioleta-visible

• VEDIC – Microscopía de contraste de interferencia diferencial mejorada por vídeo
• Voltametría

• WAXS – Dispersión de rayos X de ángulo amplio
• WDX o WDS – Espectroscopia de rayos X de dispersión de longitud de onda

• XAES – Espectroscopia de electrones Auger inducida por rayos X
• XANES – XANES , sinónimo de NEXAFS (estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde)
• XAS – Espectroscopia de absorción de rayos X
• X-CTR – Dispersión de varillas de truncamiento de cristal de rayos X
• cristalografía de rayos X
• XDS – Dispersión difusa de rayos X
• XES – Espectroscopia de emisión de rayos X
• XPEEM – Microscopía de emisión de fotoelectrones de rayos X
• XPS – Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
• XRD – Difracción de rayos X
• XRES – Dispersión de intercambio resonante de rayos X
• XRF – Análisis de fluorescencia de rayos X
• XRR – Reflectividad de rayos X
• XRS – Dispersión Raman de rayos X
• XRT – Transmisión de rayos X
• XSW – Técnica de ondas estacionarias de rayos X

• Caracterización (ciencia de los materiales)

• Callister, WD (2000). Ciencia e ingeniería de materiales: una introducción . Londres: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
• Yao, N., ed. (2007). Sistemas de haces de iones focalizados: fundamentos y aplicaciones . Cambridge, Reino Unido: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.