Articulo de referencia

Permittivity

A dielectric medium showing orientation of charged particles creating polarization effects. Such a medium can have a lower ratio of electric flux to charge (more permittivity) t...

A dielectric medium showing orientation of charged particles creating polarization effects. Such a medium can have a lower ratio of electric flux to charge (more permittivity) than empty space.

In electromagnetism, the absolute permittivity, often simply called permittivity and denoted by the Greek letter ε (epsilon), is a measure of the electric polarizability of a dielectric material. A material with high permittivity polarizes more in response to an applied electric field than a material with low permittivity, thereby storing more energy in the material. In electrostatics, the permittivity plays an important role in determining the capacitance of a capacitor.

In the simplest case, the electric displacement fieldD resulting from an applied electric fieldE is

D=ε E .{\displaystyle \mathbf {D} =\varepsilon \ \mathbf {E} ~.}

More generally, the permittivity is a thermodynamic function of state.[1] It can depend on the frequency, magnitude, and direction of the applied field. The SI unit for permittivity is farad per meter (F/m).

The permittivity is often represented by the relative permittivityεr which is the ratio of the absolute permittivity ε and the vacuum permittivityε0[2]

κ=εr=εε0 .{\displaystyle \kappa =\varepsilon _{\mathrm {r} }={\frac {\varepsilon }{\varepsilon _{0}}}~.}

This dimensionless quantity is also often and ambiguously referred to as the permittivity. Another common term encountered for both absolute and relative permittivity is the dielectric constant which has been deprecated in physics and engineering[3] as well as in chemistry.[4]

By definition, a perfect vacuum has a relative permittivity of exactly 1 whereas at standard temperature and pressure, air has a relative permittivity of εr airκair ≈ 1.0006 .

Relative permittivity is directly related to electric susceptibility (χ) by

χ=κ1{\displaystyle \chi =\kappa -1}

otherwise written as

ε=εr ε0=(1+χ) ε0 .{\displaystyle \varepsilon =\varepsilon _{\mathrm {r} }\ \varepsilon _{0}=(1+\chi )\ \varepsilon _{0}~.}

The term "permittivity" was introduced in the 1880s by Oliver Heaviside to complement Thomson's (1872) "permeability".[5] Formerly written as p, the designation with ε has been in common use since the 1950s.

Units

The SI unit of permittivity is farad per meter (F/m or F·m−1).[6]

Fm=CVm=C2Nm2=C2s2kgm3=A2s4kgm3{\displaystyle {\frac {\text{F}}{\text{m}}}={\frac {\text{C}}{{\text{V}}{\cdot }{\text{m}}}}={\frac {{\text{C}}^{2}}{{\text{N}}{\cdot }{\text{m}}^{2}}}={\frac {{\text{C}}^{2}{\cdot }{\text{s}}^{2}}{{\text{kg}}{\cdot }{\text{m}}^{3}}}={\frac {{\text{A}}^{2}{\cdot }{\text{s}}^{4}}{{\text{kg}}{\cdot }{\text{m}}^{3}}}}

Explanation

In electromagnetism, the electric displacement fieldD represents the distribution of electric charges in a given medium resulting from the presence of an electric field E. This distribution includes charge migration and electric dipole reorientation. Its relation to permittivity in the very simple case of linear, homogeneous, isotropic materials with "instantaneous" response to changes in electric field is:

D=ε E{\displaystyle \mathbf {D} =\varepsilon \ \mathbf {E} }

where the permittivity ε is a scalar. If the medium is anisotropic, the permittivity is a second rank tensor.

In general, permittivity is not a constant, as it can vary with the position in the medium, the frequency of the field applied, humidity, temperature, and other parameters. In a nonlinear medium, the permittivity can depend on the strength of the electric field. Permittivity as a function of frequency can take on real or complex values.

In SI units, permittivity is measured in farads per meter (F/m or A2·s4·kg−1·m−3). The displacement field D is measured in units of coulombs per square meter (C/m2), while the electric field E is measured in volts per meter (V/m). D and E describe the interaction between charged objects. D is related to the charge densities associated with this interaction, while E is related to the forces and potential differences.

Vacuum permittivity

La permitividad del vacío ε o (también llamada permitividad del espacio libre o constante eléctrica ) es la relación D / E en el espacio libre . También aparece en la constante de fuerza de Coulomb ,

kmi=1 4πε0 {\displaystyle k_{\text{e}}={\frac {1}{\ 4\pi \varepsilon _{0}\ }}}

Su valor es [ 7 ] [ 8 ]

ε0 =dmiF 1do2μ08.8541878128(13)×1012 F/m {\displaystyle \varepsilon _{0}\ {\stackrel {\mathrm {def} }{=}}\ {\frac {1}{c^{2}\mu _{0}}}\approx 8.854\,187\,8128(13)\times 10^{-12}{\text{ F/m }}}

dónde

Las constantes c y µ 0 se definieron en unidades del SI para tener valores numéricos exactos hasta la revisión del SI de 2019. Por lo tanto, hasta esa fecha, ε 0 también podía expresarse exactamente como una fracción. 1do2μ0=135950207149.4727056π F/m {\displaystyle \ {\tfrac {1}{c^{2}\mu _{0}}}={\tfrac {1}{35\,950\,207\,149.472\,7056\pi }}{\text{ F/m}}\ } incluso si el resultado fue irracional (porque la fracción contenía π ). [ 9 ] En contraste, el amperio era una cantidad medida antes de 2019, pero desde entonces el amperio ahora está definido exactamente y es μ 0 que es una cantidad medida experimentalmente (con la consiguiente incertidumbre) y por lo tanto también lo es la nueva definición de ε 0 de 2019 ( c permanece definido exactamente antes y desde 2019).

permitividad relativa

La permitividad lineal de un material homogéneo se suele expresar en relación con la del vacío, como una permitividad relativa ε r (también llamada constante dieléctrica , aunque este término está en desuso y a veces solo se refiere a la permitividad relativa estática, de frecuencia cero). En un material anisotrópico, la permitividad relativa puede ser un tensor, lo que provoca birrefringencia . La permitividad real se calcula entonces multiplicando la permitividad relativa por ε o :

 ε=εr ε0=(1+χ) ε0 ,{\displaystyle \ \varepsilon =\varepsilon _{\mathrm {r} }\ \varepsilon _{0}=(1+\chi )\ \varepsilon _{0}\ ,}

donde χ (frecuentemente escrito χ e ) es la susceptibilidad eléctrica del material.

La susceptibilidad se define como la constante de proporcionalidad (que puede ser un tensor ) que relaciona un campo eléctrico E con la densidad de polarización dieléctrica inducida P, de tal manera que

 PAG = ε0 χ mi,{\displaystyle \ \mathbf {P} \ =\ \varepsilon _{0}\ \chi \ \mathbf {E} \;,}

donde ε o es la permitividad eléctrica del espacio libre .

La susceptibilidad de un medio está relacionada con su permitividad relativa ε r mediante

χ=εr1 .{\displaystyle \chi =\varepsilon _{\mathrm {r} }-1~.}

Entonces, en el caso del vacío,

χ=0 .{\displaystyle \chi =0~.}

La susceptibilidad también está relacionada con la polarizabilidad de las partículas individuales en el medio mediante la relación de Clausius-Mossotti .

El desplazamiento eléctrico D está relacionado con la densidad de polarización P mediante

D=ε0 mi+PAG=ε0 (1+χ) mi=εr ε0 mi .{\displaystyle \mathbf {D} =\varepsilon _{0}\ \mathbf {E} +\mathbf {P} =\varepsilon _{0}\ (1+\chi )\ \mathbf {E} =\varepsilon _{\mathrm {r} }\ \varepsilon _{0}\ \mathbf {E} ~.}

La permitividad ε y la permeabilidad µ de un medio determinan conjuntamente la velocidad de fase v = c / n de la radiación electromagnética a través de ese medio:

εμ=1 v2 .{\displaystyle \varepsilon \mu ={\frac {1}{\ v^{2}}}~.}

Aplicaciones prácticas

Determinación de la capacitancia

La capacitancia de un capacitor se basa en su diseño y arquitectura, lo que significa que no cambiará con la carga y descarga. La fórmula para la capacitancia en un capacitor de placas paralelas se escribe como

do=ε Ad{\displaystyle C=\varepsilon \ {\frac {A}{d}}}

dóndeA{\displaystyle A}es el área de una placa,d{\displaystyle d}es la distancia entre las placas, yε{\displaystyle \varepsilon }es la permitividad del medio entre las dos placas. Para un capacitor con permitividad relativaκ{\displaystyle \kappa }, se puede decir que

do=κ ε0Ad{\displaystyle C=\kappa \ \varepsilon _{0}{\frac {A}{d}}}

Ley de Gauss

La permitividad está relacionada con el flujo eléctrico (y por extensión el campo eléctrico) a través de la ley de Gauss . La ley de Gauss establece que para una superficie gaussiana cerrada , S ,

Φmi=Qencε0=SmidA ,{\displaystyle \Phi _{E}={\frac {Q_{\text{enc}}}{\varepsilon _{0}}}=\oint _{S}\mathbf {E} \cdot \mathrm {d} \mathbf {A} \ ,} dóndeΦmi{\displaystyle \Phi _{E}}es el flujo eléctrico neto que pasa a través de la superficie,Qenc{\displaystyle Q_{\text{enc}}}es la carga encerrada en la superficie gaussiana,mi{\displaystyle \mathbf {E} }es el vector del campo eléctrico en un punto dado de la superficie, ydA{\displaystyle \mathrm {d} \mathbf {A} }es un vector de área diferencial en la superficie gaussiana.

Si la superficie gaussiana encierra uniformemente una disposición de carga simétrica y aislada, la fórmula se puede simplificar a:

mi A porqueθ=Qenc ε0  ,{\displaystyle E\ A\ \cos \theta ={\frac {\;Q_{\text{enc}}}{\ \varepsilon _{0}\ }}\ ,} dónde θ {\displaystyle \ \theta \ }representa el ángulo entre las líneas del campo eléctrico y la normal (perpendicular) a S.

Si todas las líneas de campo eléctrico cruzan la superficie a 90°, la fórmula se puede simplificar aún más a:

 mi=Qenc ε0 A  .{\displaystyle \ E={\frac {\;Q_{\text{enc}}}{\ \varepsilon _{0}\ A\ }}~.}

Porque el área de la superficie de una esfera es 4πr2 ,{\displaystyle \ 4\pi r^{2}\ ,}el campo eléctrico a distanciar{\displaystyle r}lejos de una disposición de carga esférica y uniforme es

 mi=Q ε0A =Q ε0 (4 π r2) =Q 4π ε0 r2  .{\displaystyle \ E={\frac {Q}{\ \varepsilon _{0}A\ }}={\frac {Q}{\ \varepsilon _{0}\ \left(4\ \pi \ r^{2}\right)\ }}={\frac {Q}{\ 4\pi \ \varepsilon _{0}\ r^{2}\ }}~.}

Esta fórmula se aplica al campo eléctrico debido a una carga puntual, fuera de una esfera o capa conductora, fuera de una esfera aislante con carga uniforme o entre las placas de un condensador esférico.

Dispersión y causalidad

En general, un material no puede polarizarse instantáneamente en respuesta a un campo aplicado, por lo que la formulación más general en función del tiempo es

PAG(t)=ε0tχ(tt)mi(t)dt .{\displaystyle \mathbf {P} (t)=\varepsilon _{0}\int _{-\infty }^{t}\chi \left(t-t'\right)\mathbf {E} \left(t'\right)\,\mathrm {d} t'~.}

Es decir, la polarización es una convolución del campo eléctrico en instantes anteriores con una susceptibilidad dependiente del tiempo dada por χt ) . El límite superior de esta integral también puede extenderse hasta el infinito si se define χt ) = 0 para Δ t < 0 . Una respuesta instantánea correspondería a una susceptibilidad de función delta de Dirac χt ) = χδt ) .

Es conveniente tomar la transformada de Fourier con respecto al tiempo y escribir esta relación como una función de la frecuencia. Debido al teorema de convolución , la integral se convierte en un producto simple,

 PAG(ω)=ε0 χ(ω) mi(ω) .{\displaystyle \ \mathbf {P} (\omega )=\varepsilon _{0}\ \chi (\omega )\ \mathbf {E} (\omega )~.}

Esta dependencia de la susceptibilidad con la frecuencia conlleva una dependencia de la permitividad con la frecuencia. La forma de la susceptibilidad en función de la frecuencia caracteriza las propiedades de dispersión del material.

Además, el hecho de que la polarización solo pueda depender del campo eléctrico en tiempos anteriores (es decir, efectivamente χt ) = 0 para Δ t < 0 ), una consecuencia de la causalidad , impone restricciones de Kramers-Kronig sobre la susceptibilidad χ (0) .

permitividad compleja

Un espectro de permitividad dieléctrica en un amplio rango de frecuencias. ε′ y ε″ denotan la parte real e imaginaria de la permitividad, respectivamente. En la imagen se indican varios procesos: relajación iónica y dipolar, y resonancias atómicas y electrónicas a energías más altas. [ 10 ]

A diferencia de la respuesta del vacío, la respuesta de los materiales normales a los campos externos generalmente depende de la frecuencia del campo. Esta dependencia de la frecuencia refleja el hecho de que la polarización de un material no cambia instantáneamente al aplicarle un campo eléctrico. La respuesta siempre debe ser causal (surgir después de la aplicación del campo), lo que puede representarse mediante una diferencia de fase. Por esta razón, la permitividad se suele tratar como una función compleja de la frecuencia (angular) ω del campo aplicado.

εε^(ω){\displaystyle \varepsilon \rightarrow {\hat {\varepsilon }}(\omega )}

(ya que los números complejos permiten especificar la magnitud y la fase). La definición de permitividad se convierte, por lo tanto, en:

D0 miiωt=ε^(ω) mi0 miiωt ,{\displaystyle D_{0}\ e^{-i\omega t}={\hat {\varepsilon }}(\omega )\ E_{0}\ e^{-i\omega t}\ ,} dónde

  • D o y E o son las amplitudes de los campos de desplazamiento y eléctrico, respectivamente,
  • i es la unidad imaginaria , i 2 = − 1 .

La respuesta de un medio a campos eléctricos estáticos se describe mediante el límite de baja frecuencia de la permitividad, también llamado permitividad estática ε s (también ε DC ):

εs=límiteω0ε^(ω) .{\displaystyle \varepsilon _{\mathrm {s} }=\lim _{\omega \rightarrow 0}{\hat {\varepsilon }}(\omega )~.}

En el límite de alta frecuencia (es decir, frecuencias ópticas), la permitividad compleja se suele denominar ε (o a veces ε opt [ 11 ] ). A la frecuencia de plasma y por debajo de ella, los dieléctricos se comportan como metales ideales, con comportamiento de gas de electrones. La permitividad estática es una buena aproximación para campos alternos de bajas frecuencias, y a medida que aumenta la frecuencia, emerge una diferencia de fase medible δ entre D y E . La frecuencia a la que el cambio de fase se vuelve perceptible depende de la temperatura y de los detalles del medio. Para una intensidad de campo moderada ( E o ), D y E permanecen proporcionales, y

ε^=D0mi0=|ε|miiδ .{\displaystyle {\hat {\varepsilon }}={\frac {D_{0}}{E_{0}}}=|\varepsilon |e^{-i\delta }~.}

Dado que la respuesta de los materiales a los campos alternos se caracteriza por una permitividad compleja, es natural separar sus partes real e imaginaria, lo cual se hace por convención de la siguiente manera:

ε^(ω)=ε(ω)iε(ω)=|D0mi0|(porqueδipecadoδ) .{\displaystyle {\hat {\varepsilon }}(\omega )=\varepsilon '(\omega )-i\varepsilon ''(\omega )=\left|{\frac {D_{0}}{E_{0}}}\right|\left(\cos \delta -i\sin \delta \right)~.}

dónde

  • ε′ es la parte real de la permitividad;
  • -ε″ es la parte imaginaria de la permitividad;
  • δ es el ángulo de pérdida .

La elección del signo para la dependencia temporal, e iωt , determina la convención de signos para la parte imaginaria de la permitividad.

La permitividad compleja suele ser una función compleja de la frecuencia ω , ya que describe de forma superpuesta los fenómenos de dispersión que ocurren a múltiples frecuencias. La función dieléctrica ε ( ω ) debe tener polos solo para frecuencias con partes imaginarias positivas y, por lo tanto, satisface las relaciones de Kramers-Kronig . Sin embargo, en los rangos de frecuencia estrechos que se estudian habitualmente en la práctica, la permitividad puede aproximarse como independiente de la frecuencia o mediante funciones modelo.

A una frecuencia dada, ε″ produce una pérdida por absorción si es positiva (según la convención de signos anterior) y una ganancia si es negativa. En términos más generales, deben considerarse las partes imaginarias de los autovalores del tensor dieléctrico anisotrópico.

In the case of solids, the complex dielectric function is intimately connected to band structure. The primary quantity that characterizes the electronic structure of any crystalline material is the probability of photon absorption, which is directly related to the imaginary part of the optical dielectric function ε(ω). The optical dielectric function is given by the fundamental expression:[12]

ε(ω)=1+8π2e2m2c,vWc,v(E)(φ(ωE)φ(ω+E))dx .{\displaystyle \varepsilon (\omega )=1+{\frac {8\pi ^{2}e^{2}}{m^{2}}}\sum _{c,v}\int W_{c,v}(E){\bigl (}\varphi (\hbar \omega -E)-\varphi (\hbar \omega +E){\bigr )}\,\mathrm {d} x~.}

In this expression, Wc,v(E) represents the product of the Brillouin zone-averaged transition probability at the energy E with the joint density of states,[13][14]Jc,v(E); φ is a broadening function, representing the role of scattering in smearing out the energy levels.[15] In general, the broadening is intermediate between Lorentzian and Gaussian;[16][17] for an alloy it is somewhat closer to Gaussian because of strong scattering from statistical fluctuations in the local composition on a nanometer scale.

Tensorial permittivity

According to the Drude model of magnetized plasma, a more general expression which takes into account the interaction of the carriers with an alternating electric field at millimeter and microwave frequencies in an axially magnetized semiconductor requires the expression of the permittivity as a non-diagonal tensor:[18]

D(ω)=|ε1iε20iε2ε1000εz|E(ω){\displaystyle \mathbf {D} (\omega )={\begin{vmatrix}\varepsilon _{1}&-i\varepsilon _{2}&0\\i\varepsilon _{2}&\varepsilon _{1}&0\\0&0&\varepsilon _{z}\\\end{vmatrix}}\;\operatorname {\mathbf {E} } (\omega )}

If ε2 vanishes, then the tensor is diagonal but not proportional to the identity and the medium is said to be a uniaxial medium, which has similar properties to a uniaxial crystal.

Classification of materials

Los materiales se pueden clasificar según su permitividad de valor complejo ε , al comparar sus componentes real ε e imaginaria ε (o, equivalentemente, la conductividad σ , cuando se tiene en cuenta en esta última). Un conductor perfecto tiene conductividad infinita, σ = ∞ , mientras que un dieléctrico perfecto es un material que no tiene conductividad alguna, σ = 0 ; este último caso, de permitividad de valor real (o permitividad de valor complejo con componente imaginaria cero) también se asocia con el nombre de medios sin pérdidas . [ 19 ] Generalmente, cuandoσωϵ1{\displaystyle {\frac {\sigma }{\omega \epsilon }}\ll 1}consideramos que el material es un dieléctrico de bajas pérdidas (aunque no exactamente sin pérdidas), mientras queσωϵ1{\displaystyle {\frac {\sigma }{\omega \epsilon }}\gg 1}Se asocia con un buen conductor ; los materiales con conductividad no despreciable presentan grandes pérdidas que inhiben la propagación de ondas electromagnéticas, por lo que también se denominan medios con pérdidas . Los materiales que no se encuentran dentro de ninguno de estos límites se consideran medios generales.

Medios con pérdidas

En el caso de un medio con pérdidas, es decir, cuando la corriente de conducción no es despreciable, la densidad de corriente total que fluye es:

Jnene=Jdo+Jd=σmi+iωεmi=iωε^mi{\displaystyle J_{\text{tot}}=J_{\mathrm {c} }+J_{\mathrm {d} }=\sigma E+i\omega \varepsilon 'E=i\omega {\hat {\varepsilon }}E}

dónde

  • σ es la conductividad del medio;
  • ε=ε0εr{\displaystyle \varepsilon '=\varepsilon _{0}\varepsilon _{\mathsf {r}}}es la parte real de la permitividad.
  • ε^=εiε{\displaystyle {\hat {\varepsilon }}=\varepsilon '-i\varepsilon ''}es la permitividad compleja

Tenga en cuenta que esto utiliza la convención de ingeniería eléctrica de la ambigüedad del conjugado complejo ; la convención de física/química implica el conjugado complejo de estas ecuaciones.

La magnitud de la corriente de desplazamiento depende de la frecuencia ω del campo aplicado E ; no hay corriente de desplazamiento en un campo constante.

En este formalismo, la permitividad compleja se define como: [ 20 ] [ 21 ]

ε^=ε(1iσωε)=εiσω{\displaystyle {\hat {\varepsilon }}=\varepsilon '\left(1-i{\frac {\sigma }{\omega \varepsilon '}}\right)=\varepsilon '-i{\frac {\sigma }{\omega }}}

En general, la absorción de energía electromagnética por los dieléctricos se explica mediante varios mecanismos diferentes que influyen en la forma de la permitividad en función de la frecuencia:

Los efectos mencionados anteriormente suelen combinarse para provocar efectos no lineales en los condensadores. Por ejemplo, la absorción dieléctrica se refiere a la incapacidad de un condensador cargado durante mucho tiempo para descargarse completamente tras una descarga breve. Si bien un condensador ideal permanecería a cero voltios después de la descarga, los condensadores reales desarrollan una pequeña tensión, un fenómeno también conocido como efecto de absorción o efecto de batería . Para algunos dieléctricos, como muchas películas de polímero, la tensión resultante puede ser inferior al 1-2% de la tensión original. Sin embargo, puede llegar a ser del 15-25% en el caso de condensadores electrolíticos o supercondensadores .

Interpretación cuántico-mecánica

En términos de mecánica cuántica , la permitividad se explica mediante las interacciones atómicas y moleculares .

A bajas frecuencias, las moléculas en dieléctricos polares se polarizan por un campo eléctrico aplicado, lo que induce rotaciones periódicas. Por ejemplo, a la frecuencia de microondas , el campo de microondas provoca la rotación periódica de las moléculas de agua, suficiente para romper los enlaces de hidrógeno . El campo realiza trabajo contra los enlaces y la energía es absorbida por el material en forma de calor . Por eso, los hornos de microondas funcionan muy bien con materiales que contienen agua. Existen dos máximos en la componente imaginaria (el índice de absorción) del agua: uno a la frecuencia de microondas y otro a la frecuencia del ultravioleta lejano (UV). Ambas resonancias se encuentran a frecuencias superiores a la frecuencia de funcionamiento de los hornos de microondas.

A frecuencias moderadas, la energía es demasiado alta para provocar rotación, pero demasiado baja para afectar directamente a los electrones, y se absorbe en forma de vibraciones moleculares resonantes. En el agua, es en este rango donde el índice de absorción comienza a disminuir drásticamente, y el mínimo de la permitividad imaginaria se encuentra en la frecuencia de la luz azul (régimen óptico).

A altas frecuencias (como la ultravioleta y superiores), las moléculas no pueden relajarse y la energía es absorbida exclusivamente por los átomos, excitando los niveles de energía de los electrones . Por lo tanto, estas frecuencias se clasifican como radiación ionizante .

Si bien ahora es posible realizar un modelado ab initio completo (es decir, a partir de primeros principios) mediante cálculos computacionales, su aplicación aún no está muy extendida. Por lo tanto, se acepta que un modelo fenomenológico es un método adecuado para describir comportamientos experimentales. Los modelos de Debye y Lorentz utilizan una representación lineal de parámetros de sistema concentrados de primer y segundo orden (respectivamente), como un circuito resonante RC y LRC.

Medición

La permitividad relativa de un material se puede determinar mediante diversas mediciones eléctricas estáticas. La permitividad compleja se evalúa en un amplio rango de frecuencias utilizando diferentes variantes de espectroscopia dieléctrica , que abarcan casi 21 órdenes de magnitud, desde 10⁻⁶ hasta 10¹⁵ hercios . Asimismo, mediante el uso de criostatos y hornos, se pueden caracterizar las propiedades dieléctricas de un medio en un rango de temperaturas. Para estudiar sistemas sometidos a campos de excitación tan diversos, se utilizan diferentes configuraciones de medición, cada una adecuada para un rango de frecuencia específico.

En Chen et al. [ 22 ] se describen varias técnicas de medición de microondas. Los errores típicos para el método Hakki-Coleman que emplea un disco de material entre planos conductores son de aproximadamente 0,3%. [ 23 ]

En frecuencias infrarrojas y ópticas, una técnica común es la elipsometría . La interferometría de doble polarización también se utiliza para medir el índice de refracción complejo de películas muy delgadas en frecuencias ópticas.

Para la medición 3D de tensores dieléctricos a frecuencia óptica, se puede utilizar la tomografía de tensor dieléctrico. [ 24 ]

Véase también

Referencias

  1. Landau, LD ; Lifshitz, EM ; Pitaevskii, LP (2009). Electrodinámica de medios continuos . Elsevier Butterworth-Heinemann. ISBN 978-0-7506-2634-7OCLC 756385298 
  2. "Permitividad eléctrica del vacío" . physics.nist.gov . Consultado el 10 de febrero de 2025 .
  3. Definiciones estándar de términos de la IEEE para la propagación de ondas de radio (Informe). IEEE . 1997. pág. 6. IEEE STD 211-1997 . 
  4. Braslavsky, SE (2007). "Glosario de términos utilizados en fotoquímica (recomendaciones de la IUPAC 2006)" (PDF) . Pure and Applied Chemistry . 79 (3): 293– 465. doi : 10.1351/pac200779030293 . S2CID 96601716 . 
  5. Fleming, John Ambrose (1910). Los principios de la telegrafía por ondas eléctricas . pág. 340. 
  6. Oficina Internacional de Pesas y Medidas (2006), El Sistema Internacional de Unidades (SI) (PDF) (8.ª ed.), ISBN  92-822-2213-6, archivado (PDF) del original el 4 de junio de 2021 , recuperado el 16 de diciembre de 2021pág. 119
  7. "Valor CODATA 2022: permitividad eléctrica del vacío" . Referencia del NIST sobre constantes, unidades e incertidumbre . NIST . Mayo de 2024. Consultado el 18 de mayo de 2024 .
  8. "Valores más recientes (2018) de las constantes" . Physics.nist.gov . Instituto Nacional de Estándares y Tecnología de EE. UU. (NIST). 2019-05-20 . Consultado el 2022-02-05 .
  9. "Valores más recientes (2006) de las constantes" . Physics.nist.gov . US NIST . 1 de julio de 2017. Consultado el 20 de noviembre de 2018 .
  10. "Espectroscopia dieléctrica" . Archivado del original el 18 de enero de 2006. Consultado el 20 de noviembre de 2018 .
  11. Hofmann, Philip (26 de mayo de 2015). Física del estado sólido (2.ª ed.). Wiley-VCH. pág. 194. ISBN   978-352741282-2Archivado del original el 18 de marzo de 2020. Consultado el 28 de mayo de 2019 .
  12. Yu, Peter Y.; Cardona, Manuel (2001). Fundamentos de semiconductores: física y propiedades de los materiales . Berlín: Springer. pág. 261. ISBN  978-3-540-25470-6.
  13. Solé, José García; Solé, José; Bausa, Luisa (2001). Una introducción a la espectroscopia óptica de sólidos inorgánicos . Wiley. Apéndice A1, página 263. ISBN   978-0-470-86885-0.
  14. Moore, John H.; Spencer, Nicholas D. (2001). Enciclopedia de física química y química física . Taylor and Francis. pág. 105. ISBN  978-0-7503-0798-7.
  15. Solé, José García; Bausá, Luisa E.; Jaqué, Daniel (22 de marzo de 2005). Introducción a la espectroscopia óptica de sólidos inorgánicos . John Wiley e hijos. pag. 10.ISBN  978-3-540-25470-6. Consultado el 28 de abril de 2024 .
  16. Haug, Hartmut; Koch, Stephan W. (1994). Teoría cuántica de las propiedades ópticas y electrónicas de los semiconductores . World Scientific. pág. 196. ISBN  978-981-02-1864-5.
  17. Razeghi, Manijeh (2006). Fundamentos de ingeniería de estado sólido . Birkhauser. pág. 383. ISBN  978-0-387-28152-0.
  18. Prati, E. (2003). "Propagación en sistemas de guiado giroelectromagnético". Journal of Electromagnetic Waves and Applications . 17 (8): 1177– 1196. Bibcode : 2003JEWA...17.1177P . doi : 10.1163/156939303322519810 . S2CID 121509049 . 
  19. Orfanidis, Sophocles J. "1: Ecuaciones de Maxwell". Ondas electromagnéticas y antenas . Universidad de Rutgers.
  20. Seybold, John S. (2005). Introducción a la propagación de RF . John Wiley & Sons. pág. 22, ec. (2.6). ISBN   9780471743682.
  21. Kaiser, Kenneth L. (2005). Blindaje electromagnético . CRC Press. págs. 1–28 , ecuaciones (1.80) y (1.81). ISBN  9780849363726.
  22. Chen, Linfeng; Varadan, VV; Ong, CK; Neo, Chye Poh (2004). "Teoría y técnicas de microondas para la caracterización de materiales" . Electrónica de microondas: Medición y caracterización de materiales . Wiley. pág. 37. ISBN  978-0-470-84492-2.
  23. Sebastian, Mailadil T. (2008). Materiales dieléctricos para la comunicación inalámbrica . Elsevier. pág. 19. ISBN  978-0-08-045330-9.
  24. Shin, Seungwoo; Eun, Jonghee; Lee, Sang Seok; Lee, Changjae; Hugonnet, Herve; Yoon, Dong Ki; et al. (2022). "Medición tomográfica de tensores dieléctricos a frecuencia óptica". Nature Materials . 21 (3): 317– 324. Bibcode : 2022NatMa..21..317S . doi : 10.1038/s41563-022-01202-8 . PMID 35241823 .  

Lecturas adicionales

  • Bottcher, CJF; von Belle, OC; Bordewijk, Paul (1973). Teoría de la polarización eléctrica . Vol.  1: Polarización dieléctrica. Elsevier. ISBN 0-444-41579-3.(volumen  2, publicado en 1978)
  • Von  Hippel, Arthur (1954). Dieléctricos y Ondas . Casa Artech. ISBN 0-89006-803-8.{{cite book}}: Incompatibilidad de ISBN/Fecha ( ayuda )
  • von  Hippel, Arthur , ed. (1966). Materiales dieléctricos y aplicaciones: Artículos de 22  colaboradores . Artech House. ISBN 0-89006-805-4.
  • Capítulo  11. lightandmatter.com . Electromagnetismo. Archivado del original el 3 de junio de 2011.– un capítulo de un libro de texto en línea