probador de memoria

Los equipos de prueba automáticos (ATE) de alta gama, como los analizadores de memoria de clase ATE, son utilizados por la mayoría de los fabricantes de chips de memoria OEM, como Samsung, Hyundai y Micron. Su precio suele partir de un millón de dólares por sistema. Estos equipos deben ser operados por ingenieros de semiconductores altamente capacitados. Los analizadores de memoria de clase ATE incorporan algoritmos de prueba muy complejos para detectar fallos de memoria durante las etapas finales del empaquetado de los chips.

Los analizadores de memoria de gama media suelen tener un precio inferior a 26 000 dólares ^{[ 1 ]} y se encuentran habitualmente en las plantas de ensamblaje de módulos de memoria. Estos analizadores están diseñados para soportar grandes volúmenes de pruebas de módulos de memoria. También se utilizan para detectar fallos de ensamblaje causados ​​por soldaduras incorrectas y contaminación cruzada de celdas después de que los chips se hayan ensamblado en placas de circuito impreso o tarjetas SIMM. Estos analizadores de memoria suelen estar integrados en un sistema de manipulación automática para pruebas de producción a gran escala, lo que elimina la intervención manual del operario.

Los comprobadores de memoria de gama baja suelen tener un precio relativamente bajo, entre 1000 y 3000 dólares. Sus principales características son la portabilidad, la facilidad de uso y su tamaño reducido. Suelen ser utilizados por el sector de servicios, especialmente por técnicos informáticos, departamentos de RMA, revendedores/intermediarios/mayoristas de memoria, para verificar y probar módulos de memoria que fallan en sistemas informáticos o antes de su instalación. La calidad y las características de esta gama de comprobadores de memoria varían considerablemente según el fabricante. Un buen comprobador de memoria cuenta con características comparables a las de los sistemas ATE de gama alta y los comprobadores de memoria de gama media. La clave reside en ofrecer un comprobador sencillo de usar a un precio asequible que, a la vez, sea eficaz para detectar la mayoría de los fallos de memoria.

Los programas de diagnóstico de memoria (por ejemplo, memtest86 ) son herramientas gratuitas o de bajo coste que se utilizan para comprobar si hay fallos de memoria en un PC. Suelen presentarse como una distribución de software de arranque en un disquete o CD-ROM . Estas herramientas de diagnóstico proporcionan patrones de prueba de memoria que permiten comprobar toda la memoria del sistema del ordenador. El software de diagnóstico no se puede utilizar cuando un PC no arranca debido a un problema de memoria o de la placa base . Si bien, en principio, un programa de prueba podría informar de sus resultados enviándolos a un dispositivo de almacenamiento (por ejemplo, un disquete) o a una impresora (si funciona), o mediante señales sonoras, en la práctica se requiere una pantalla que funcione.

Las fallas permanentes afectan los valores lógicos del sistema de forma permanente; estas fallas son más fáciles de detectar utilizando un comprobador de memoria. Algunos ejemplos son:

• Conexiones incorrectas entre circuitos integrados , placas, etc. (por ejemplo, conexiones faltantes o cortocircuitos debido a salpicaduras de soldadura o fallas de diseño).
• Componente o partes de componentes rotos
• Máscara de circuito integrado incorrecta (problema de fabricación).
• Errores de diseño funcional (la función lógica que debía implementarse está diseñada incorrectamente).
• Célula de almacenamiento defectuosa

Las fallas no permanentes ocurren de forma aleatoria. Afectan el comportamiento del sistema durante un período de tiempo indeterminado. La detección y localización de fallas no permanentes resulta extremadamente difícil con un analizador de memoria. En ocasiones, las fallas no permanentes no afectan el funcionamiento del sistema durante las pruebas.

Existen dos tipos de fallas no permanentes: fallas transitorias y fallas intermitentes.

Las fallas transitorias son difíciles de detectar y no existen fallas bien definidas para su detección. Los errores en la memoria RAM introducidos por fallas transitorias suelen denominarse errores de software. Los siguientes ejemplos son posibles factores que pueden contribuir a las fallas transitorias:

• Rayos cósmicos ( luz ultravioleta )
• Partícula alfa (polvo)
• Contaminación
• Humedad
• Temperatura
• Presión
• Vibración
• fluctuaciones en el suministro eléctrico
• Interferencia electromagnética
• Descargas electrostáticas
• bucles de tierra

Las fallas intermitentes son causadas por condiciones no ambientales tales como:

• Conexiones sueltas
• Componentes deteriorados o envejecidos
• Momento crucial
• Variación de resistencia y capacitancia
• irregularidades físicas
• Ruido (el ruido perturba las señales en el sistema)
• Susceptibilidad al martillo de fila