Prueba de estrés altamente acelerada

El método de prueba de estrés altamente acelerada (HAST) fue propuesto por primera vez por Jeffrey E. Gunn, Sushil K. Malik y Purabi M. Mazumdar de IBM. ^{[ 1 ]}

El factor de aceleración para la humedad elevada se deriva empíricamente de la siguiente manera:

${\displaystyle AF_{\text{H}}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})},}$

${\displaystyle {\text{const}}}$es un valor que normalmente va de 0,1 a 0,15.

donde RH _s es la humedad bajo estrés, RH _o es la humedad del entorno operativo y n es una constante derivada empíricamente (generalmente 1 < n < 5).

El factor de aceleración para temperaturas elevadas se deriva de la siguiente manera:

${\displaystyle AF_{T}=e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})},}$

donde E _a es la energía de activación para la falla inducida por la temperatura (generalmente 0,7  eV para la electrónica), k es la constante de Boltzmann , T _o es la temperatura de funcionamiento en kelvin y T _s es la temperatura de estrés.

Por lo tanto, el factor de aceleración total para las pruebas HAST imparciales es

${\displaystyle AF_{\text{HAST}}=AF_{\text{H}}\cdot AF_{T}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})}e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})}.}$