Detector de panel plano

Los detectores indirectos contienen una capa de material centelleador , generalmente oxisulfuro de gadolinio o yoduro de cesio , que convierte los rayos X en luz. Justo detrás de la capa centelleadora se encuentra una matriz de detectores de silicio amorfo fabricada mediante un proceso muy similar al utilizado para fabricar televisores LCD y monitores de computadora. Al igual que en una pantalla TFT-LCD , millones de píxeles  de aproximadamente 0,2 mm, cada uno con un transistor de película delgada, forman una cuadrícula grabada en silicio amorfo sobre el sustrato de vidrio. ^{[ 1 ]} A diferencia de una pantalla LCD, pero de forma similar al chip sensor de imagen de una cámara digital, cada píxel también contiene un fotodiodo que genera una señal eléctrica proporcional a la luz producida por la porción de la capa centelleadora frente al píxel. Las señales de los fotodiodos se amplifican y codifican mediante componentes electrónicos adicionales ubicados en los bordes o detrás de la matriz de sensores para producir una representación digital precisa y sensible de la imagen de rayos X. ^{[ 2 ]}

Los generadores de imágenes de conversión directa utilizan fotoconductores , como el selenio amorfo (a-Se), para capturar y convertir fotones de rayos X incidentes directamente en carga eléctrica. ^{[ 3 ]} Los fotones de rayos X que inciden sobre una capa de a-Se generan pares electrón-hueco mediante el efecto fotoeléctrico interno. Un voltaje de polarización aplicado a la profundidad de la capa de selenio atrae los electrones y los huecos hacia los electrodos correspondientes; la corriente generada es, por lo tanto, proporcional a la intensidad de la irradiación. La señal se lee mediante la electrónica de lectura subyacente, generalmente mediante una matriz de transistores de película delgada (TFT). ^{[ 4 ] [ 5 ]}

Al eliminar el paso de conversión óptica inherente a los detectores de conversión indirecta, se elimina la dispersión lateral de los fotones ópticos, reduciendo así la borrosidad en el perfil de señal resultante en los detectores de conversión directa. Junto con los pequeños tamaños de píxel que se pueden lograr con la tecnología TFT, los detectores de conversión directa de a-Se pueden proporcionar una alta resolución espacial. Esta alta resolución espacial, junto con la eficiencia de detección cuántica relativamente alta del a-Se para fotones de baja energía (< 30 keV), motiva el uso de esta configuración de detector para mamografía , en la que se desea una alta resolución para identificar microcalcificaciones . ^{[ 6 ]}